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Generation der Flunkerei-SEMs umfassen 3-D Analytics

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ZEISS stellt eine neue Generation von fokussierten Überprüfungselektronenmikroskopen des Ionenstrahls (Flunkerei-SEMs) für Spitzenanwendungen in der Forschung und in der Industrie dar.

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ZEISS-Querbalken 550 kennzeichnet einen bedeutenden Anstieg in der Entschließung für Darstellungs- und Materialkennzeichnung und einen Geschwindigkeitsgewinn in der Probenaufbereitung. Nanostrukturen wie Zusammensetzungen, Metalle, Biosubstanzen oder Halbleiter können mit den analytischen und Darstellungsmethoden parallel nachgeforscht werden. Der Querbalken 550 erlaubt simultane Änderung und Überwachung von Proben, mit dem Ergebnis der schnellen Probenaufbereitung und des hohen Durchsatzes z.B. für quer-Einteilungs-, TEM-Lamellenvorbereitung oder das Nano--Kopieren.

Es auch 550 liefert ausgezeichnete Bildqualität in 2-D und 3-D. Der neue Tandem-decel Modus ermöglicht erhöhter Entschließung zusammen mit einer Maximierung des Bildkontrastes an der niedrigen Landungsenergie. Die bahnbrechende Elektronenoptik der Zwillinge II liefert optimale Entschließung an der Niederspannung und hohen an der Sonde, die gleichzeitig gegenwärtig ist. Die FLUNKEREI-Spalte kombiniert den höchsten verfügbaren FLUNKEREI-Strom von Na 100 mit dem neuen FastMill-Modus und parallel lässt die in hohem Grade genaue und leistungsfähigere Werkstoffverarbeitung und Darstellung zu. Zusätzlich erhöht der neue Prozess für automatisierte Emissionswiederaufnahme die Benutzerfreundlichkeit und optimiert die FLUNKEREI-Spalte für reproduzierbare Ergebnisse während der langfristigen Experimente.